Zasada defektoskopii izotopowej oparta jest na zależności osłabienia promieniowania y przy przejściu przez warstwę materii od grubości tej warstwy. Wyobraźmy sobie, że w płaskim wyrobie o grubości d (patrz rys. 8) znajduje się wada o grubości a. Dla wygody założymy, że wadę tę stanowi jakaś nieciągłość, np. pęcherz gazowy, który nie osłabia promieniowania. Natężenie promieni y po przejściu przez wyrób w miejscu, w którym nie ma wady, będzie wynosiło zgodnie z wzorem (1):
Z powyższego wzoru widać, że lepszą wykrywalność (czyli mniejsze a) otrzymamy stosując promieniowanie o mniejszej energii, tzw. promieniowanie miękkie, gdyż wówczas wartość współczynnika /< jest większa
(por. rys. 7). Do kontroli wyrobów o niewielkich grubościach stosuje sią izotopy emitujące promieniowanie miękkie, takie jak 170Tm, 75Se, 102Ir, gdyż wówczas osiąga się lepsze rezultaty niż przy wykorzystaniu promieniowania twardego (tzn. o dużej energii). Izotopy dające takie promieniowanie (np. fi0Co 124Sb, 1S2Ta) są natomiast stosowane do kontroli wyrobów grubościennych. Wyniki kontroli przy zastosowaniu różnych izotopów są więc różne w zależności od energii emitowanego promieniowania y.
O wielkości wykrywanej wady decyduje również różnica natężeń promieniowania po przejściu przez kontrolowany wyrób, którą zdołamy zaobserwować. Im mniejsza będzie ta różnica, tym lepszą osiągniemy wykrywalność (gdyż wówczas wartość wyrażenia ln- będzie mniejsza).
W zależności od metody rejestracji promieniowania po przejściu przez kontrolowany wyrób dzielimy defektoskopię na dwie zasadnicze metody. W metodzie radiograficznej do detekcji promieniowania służy błona rentgenowska, natomiast w metodzie jonometrycznej rejestruje się natężenie promieniowania przy pomocy liczników Geigera-Miillera lub liczników scyntylacyjnych. Pierwsza z wymienionych metod jest wszechstronniejsza i bardziej rozpowszechniona.
Leave a reply