METODA JONOMETRYCZNA

Zasadniczy schemat metody jonometrycznej pokazany jest na rys. 18. Między preparatem promieniotwórczym wysyłającym promienie y a licznikiem przesuwa się kontrolowany wyrób. Jeżeli w wyrobie tym będzie znajdowała się jakaś wada to natężenie promieniowania padającego na licznik wzrośnie. Ta zmiana natężenia promieniowania rejestrowana przez specjalny przyrząd informuje nas o położeniu i wielkości wady.

Metoda jonometryczna pozwala na ciągłą kontrolę wyrobów jednego typu o prostych kształtach oraz na badanie wyrobów rozgrzanych, albowiem licznik można ustawić w pewnej odległości od wyrobu. Dużą zaletą tej metody jest możliwość ustawienia przyrządu rejestrującego w dowolnej odległości od preparatu, co zmniejsza stopień zagrożenia pracowników przez promieniowanie. Metoda jonometryczna umożliwia znacznie skrócenie czasu kontroli i jest tańsza od radiograficznej. Wadą jej jest trudność w badaniu skomplikowanych konstrukcji oraz to, że przy jej stosowaniu nie można ustalić dokładnie rodzaju i charakteru wady.

Metodom defektoskopii y poświęciliśmy tu sporo miejsca, gdyż znajduje ona już zastosowanie w przemyśle. Prace nad opracowaniem metod defektoskopii y podjęte zostały już w pierwszej połowie 1955 r. w Zakładzie Radiologii Przemysłowej Instytutu Elektrotechniki. Obecnie metody te są już wprowadzane w kilku zakładach przemysłowych. W niedługim czasie, zwłaszcza gdy rozpoczniemy w kraju produkcję sztucznych izotopów promieniotwórczych, zakres tej kontroli niewątpliwie znacznie się rozszerzy.

Leave a reply

You may use these HTML tags and attributes: <a href="" title=""> <abbr title=""> <acronym title=""> <b> <blockquote cite=""> <cite> <code> <del datetime=""> <em> <i> <q cite=""> <s> <strike> <strong>